SECTIE G FYSICA
(1)
In deze Sectie owrdt de volgende uitdrukking gebruikt met de
aangegevens betekenis:
- “variabele” (als een
zelfstand naamwoord) betekent een kenmerk of eigenschap (bijv. een dimensie, een
fysische toestand zoals temperatuur, een kwaliteit zoals dichtheid of kleur),
die met betrekking tot een bepaalde entiteit (bijv. een object, een hoeveelheid
van een substantie, een lichtstraal) en op een bepaald ogenblik, kan worden
gemeten; de variabele kan veranderen, zodat de numerieke uitdrukking ervan
verschillende waarden op verschillende tijden, onder verschillende condities of
in afzonderlijke gevallen kan aannemen, maar kan constant zijn met betrekking
tot een specifieke entiteit onder bepaalde omstandigheden of voor specifieke
doeleinden (bijv. de lengte van een staaf mag als constant worden beschouwd
voor vele doeleinden).
(2) De aandacht wordt gevestigd op de
definities van gebruikte termen of uitdrukkingen. Sommige komen voor in de
Aantekeningen van diverse klassen in deze Sectie, zie in het bijzonder de
definitie van “meten” in klasse G01. Andere komen voor in § 187 van de Gids voor de IPC, zie in het bijzonder de definitie van
“regelen”. [17]
(3) Klassering in deze Sectie kan moeilijker blijken
dan in andere Secties, omdat het onderscheid tussen verschillende
toepassingsgebieden in belangrijker mate afhankelijk is van de bedoeling van de
gebruiker dan op enig constructief verschil of gebruiksverschil, en omdat de
behandelde onderwerpen vaak deel uitmaken van systemen of combinaties, met
gezamenlijke kenmerken of delen, meer dan “dingen”die als geheel gemakkelijk
zijn te onderscheiden. Bijvoorbeeld, informatie (bijv. een stel figuren) kan
worden getoond met het doel van onderwijs of reclame (G09), om het resultaat
van een meting bekend te maken (G01), voor het signaleren van de informatie
naar een punt op afstand of het geven van gesignaleerde informatie vanaf een
punt op afstand (G08). De gebruikte woorden om het doel te beschrijven hangen af
van aspecten die irrelevant kunnen zijn voor de vorm van het betreffende
apparaat, bijv. aspecten zoals het gewenste effectop de persoon die naar de
afbeelding kijkt, of of de afbeelding op afstand wordt geregeld. Nogmaals, een
inrichting die in zekere mate op een toestand reageert, bijv. op de druk van
een fluïdum, kan zonder wijziging aan de inrichting zelf worden gebruikt om
informatie te geven over de druk (G01L) of over een andere toestand die
gekoppeld is aan de druk (een andere subklasse van G01, bijv. G01K voor de
temperatuur), om een opname te maken van de druk of het voorkomen daarvan
(G07C), om een alarm te geven (G08B) of om een andere apparaat aan te sturen
(G05).
Het
klasseringsschema is bedoeld om zaken van soortgelijke aard (zoals hierboven
aangegeven) bij elkaar te kunnen klasseren. Het is daarom in het bijzonder
noodzakelijk eerst over de werkelijke aard van enig technisch onderwerp te
beslissen voordat er goed geklasseerd kan worden.
G 01 METEN; TESTEN [9]
Aantekeningen
(1) Onder deze klasse vallen, naast “echte” meetinstrumenten, andere weergeefinrichtingen of opneeminrichtingen met een analoge constructie, en tevens signaleringsinrichtingen of regelinrichtingen voor zover zij betrekking hebben op meting (zoals gedefinieerd in Aantekening 2 hieronder) en niet speciaal zijn aangepast aan het specifieke doel van signalering of regeling.
(2) In deze klasse wordt de volgende term gebruikt met de aangegeven betekenis:
- “meten” wordt gebruikt om aanzienlijk meer te dekken dan de primaire of basisbetekenis. In die primaire zin betekent dat het vinden van een numerieke uitdrukking van de waarde van een variabele in relatie tot een eenheid of gegeven of tot een andere variabele van dezelfde aard, bijv. het uitdrukken van een lengte in termen van een andere lengte zoals bij het meten van een lengte met een schaal; de waarde kan direct worden verkregen (zoals eerder gesuggereerd) of door het meten van een andere variabele waarvan de waarde in verband staat met de waarde van de gevraagde variabele, zoals bij het meten van een temperatuursverandering door het meten van een resulterende verandering in de lengte van een kwikkolom. Omdat echter dezelfde inrichting of hetzelfde instrument, in plaats van voor het geven van een directe aanduiding, kan worden gebruikt voor het produceren van een opname of voor het op gang brengen van een signaal voor het produceren van een aanduiding of regeling, of kan worden gebruikt in combinatie met andere inrichtingen of instrumenten voor het aangeven van een gezamenlijk resultaat uit een meting van twee of meer variabelen van dezelfde of een andere soort, is het noodzakelijk om onder “meten” tevens een bewerking te verstaan die het mogelijk moet maken een dergelijke numerieke uitdrukking te verkrijgen door het aanvullend gebruik van een zekere wijze van omzetting van een waarde in getallen. De uitdrukking in getallen kan derhalve werkelijk bestaan uit een digitale presentatie of de aflezing van een schaal, of er kan een aanduiding van worden gegeven zonder het gebruik van getallen, bijv. door een waarneembaar kenmerk (variabele) van de entiteit (bijv. een object, substantie of lichtstraal) waarvan de gemeten variabele een eigenschap of toestand is of door iets wat met een dergelijk kenmerk overeenkomt (bijv. de overeenkomstige positie van een lichaam zonder enige schaal of een overeenkomstige spanning die op zekere wijze is opgewekt). In veel gevallen is er niet zo’n waarde-aanduiding, maar slechts een aanduiding van het verschil of de gelijkheid in relatie tot een standaard of gegeven (waarvan de waarde al dan niet bekend is uit getallen); de standaard of het gegeven kan de waarde zijn van een andere variabele van dezelfde aard maar van een verschillende entiteit (bijv. een standaardmaat) of van dezelfde entiteit op een ander tijdstip. In de meest eenvoudige vorm geeft een meting meer een aanduiding van de aanwezigheid of afwezigheid van een zekere toestand of kwaliteit, bijv. beweging (in elke of in één specifieke richting), of op het al dan niet overschrijden van een vooraf bepaalde waarde door een variabele.
(3) De aandacht wordt gevestigd op de
Aantekeningen volgend op de titel van klasse B81 en subklasse B81B met
betrekking tot “microstructurele inrichtingen” en “microstructurele systemen”,
en de Aantekeningen volgend op de titel van subklasse B82B met betrekking tot
“nanostructuren”. [7,17]
(4) De aandacht wordt gevestigd op de Aantekeningen volgend op de titel van Sectie G, in het bijzonder met betrekking tot de definitie van de term “variabele”.
(5) In veel meetvoorzieningen wordt een eerste te meten variabele omgezet in tweede of latere variabelen. De tweede of latere variabelen kunnen zijn (a) een toestand die in verband staat met de eerste variabele en die wordt geproduceerd in een lichaam, of (b) de verplaatsing van een lichaam. Verdere omzetting kan nodig zijn. Bij het klasseren van zo’n voorziening (i) wordt de of elke van belang zijnde omzetstap geklasseerd, of (ii) wordt - als alleen het gehele systeem van belang is - de eerste variabele geklasseerd op de toepasselijke plaats. Dit is in het bijzonder van belang als er twee of meer omzettingen plaatsvinden, bijvoorbeeld daar waar een eerste variabele, bijv. druk, wordt omgezet in een tweede variabele, bijv. een optische eigenschap van een tastlichaam, en die tweede variabele wordt uitgedrukt door een derde variabele, bijv. een elektrisch effect. In zo’n geval moeten de volgende klasseringsplaatsen in beschouwing worden genomen: de plaats voor de omzetting van de eerste variabele, die voor het aftasten van de conditie die wordt veroorzaakt door die variabele, subklasse G01D voor het uitdrukken van de meting en tenslotte de plaats voor het volledige systeem, als die er is. [6]
(6) De meting van verandering in de waarde van een fysische eigenschap wordt geklasseerd in dezelfde subklasse als de meting van die fysische eigenschap, bijv. meting van vergroting van de lengte, wordt geklasseerd in subklasse G01B.
G 01 Q AFTASTSONDE-TECHNIEKEN
OF AFTASTSONDE-APPARATUUR; TOEPASSINGEN VAN AFTASTSONDE-TECHNIEKEN, BIJV.
AFTASTSONDE-MICROSCOPIE (SPM) [10]
Aantekeningen
(1) In deze subklasse is de prioriteitsregel voor de eerste plaats van kracht, d.w.z. op elk hiërarchisch niveau wordt geklasseerd in de eerst toepasselijke plaats, tenzij anders staat vermeld. [15]
(2) (REDACTIE)
[10]
In deze subklasse worden de volgende afkortingen gebruikt:
AFM Atomic Force Microscopy Microscopie met atoomenergie
MFM Magnetic Force Microscopy Microscopie met magneetkracht
SCM Scanning Capacitance Microscopie
Microscopy met capacitaire
aftasting
SECM Scanning Electro-Chemical Microscopie
Micriscopy met electro-
chemische
aftasting
SEM Scanning Electron
Microscopy Microscopie met elektronenaftasting
SICM Scanning Ion-Conductance Microscopie met
Microscopy ionengeleidings-
aftasting
SNOM Scanning Near-field Optical Microscopie met Microscopy optische nabij-
heidsaftasting
SPM Scanning Probe Microscopy Microscopie met aftastsondes
STM Scanning Tunneling Microscopie met
Microscopy tunnelaftasting
SThM Scanning Thermal Microscopy Microscopie met warmte-aftasting
STP Scanning Tunneling Potentiometrie
Potentiometry met tunnel-
aftasting
STS Scanning Tunneling Spectroscopie
Spectroscopy
met tunnel-
aftasting
G 01 Q 10/00 Aftastvoorzieningen of
positioneervoorzieningen, d.w.z. voorzieningen voor het actief regelen van de
beweging of positie van de sonde [10]
G 01 Q 10/02 . Grove aftasting of positionering [10]
G 01 Q 10/04 . Fijne aftasting of positionering [10]
G 01 Q 10/06 . . Schakelingen of algoritmen daarvoor [10]
G 01 Q 20/00 Bewaken van de beweging of
positie van de sonde [10]
G 01 Q 20/02 . door optische middelen [10]
G 01 Q 20/04 . Zichzelf detecterende sondes, d.w.z. waarin de sonde zelf een signaal opwekt dat representatief is voor haar positie, bijv. een piëzo-elektrische meter [10]
G 01 Q 30/00 Hulpmiddelen die dienen ter
ondersteuning of verbetering van de aftastsonde-technieken of
aftastsonde-apparatuur, bijv. weergeefinrichtingen of
gegevensverwerkingsinrichtingen [10]
G 01 Q 30/02 . Analyse-inrichtingen anders dan met SPM (microscopie met aftatssondes), bijv. een SEM (microscopie met elektronenaftasting), een spectrometer of een optische microscoop [10]
G 01 Q 30/04 . Weergeefinrichtingen of gegevensverwerkingsinrichtingen [10]
G 01 Q 30/06 . . om fouten te compenseren [10]
G 01 Q 30/08 . Middelen voor het tot stand brengen of regelen van een gewenste omgevingstoestand binnen een monsterkamer [10]
G 01 Q 30/10 . . Warmte-omgeving [10]
G 01 Q 30/12 . . Fluïdumomgeving [10]
G 01 Q 30/14 . . . Vloeistofomgeving [10]
G 01 Q 30/16 . . Vacuümomgeving [10]
G 01 Q 30/18 . Middelen voor het beschermen of isoleren van de binnenzijde van een monsterkamer tegen externe omgevingstoestanden of omgevingsinvloeden, bijv. trillingen of elektromagnetische velden [10]
G 01 Q 30/20 . Inrichtingen of methoden voor het hanteren van monsters [10]
G 01 Q 40/00 IJken, bijv. van sondes [10]
G 01 Q 40/02 . IJkstandaarden of vervaardigingsmethoden daarvan [10]
G 01 Q 60/00 Bijzondere soorten SPM
(microscopie met aftastsondes) of apparatuur daarvoor; Essentiële onderdelen
daarvan [10]
G 01 Q 60/02 . Meervoudige SPM (Microscopie met aftastsondes), d.w.z. waarbij sprake is van twee of meer SPM-technieken [10]
G 01 Q 60/04 . . STM (microscopie met tunnelaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G 01 Q 60/06 . . SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G 01 Q 60/08 . . MFM (microscopie met magneetkracht) gecombineerd met AFM (microscopie met atoomenergie) [10]
G 01 Q 60/10 . STM (microscopie met tunnelaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. STM-sondes [10]
G 01 Q 60/12 . . STS (spectroscopie met tunnelaftasting) [10]
G 01 Q 60/14 . . STP (potentiometrie met tunnelaftasting) [10]
G 01 Q 60/16 . . Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G 01 Q 60/18 . SNOM (microscopie met optische nabijheidsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SNOM-sondes [10]
G 01 Q 60/20 . . Fluorescentie [10]
G 01 Q 60/22 . . Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G 01 Q 60/24 . AFM (microscopie met atoomenergie) of apparatuur daarvoor, bijv. AFM-sondes [10]
G 01 Q 60/26 . . Microscopie met wrijvingskrachten [10]
G 01 Q 60/28 . . Microscopie met hechtingskrachten [10]
G 01 Q 60/30 . . Microscopie met potentiaalaftasting [10]
G 01 Q 60/32 . . Wisselstroommodus [10]
G 01 Q 60/34 . . . Aftakmodus [10]
G 01 Q 60/36 . . Gelijkstroommodus [10]
G 01 Q 60/38 . . Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G 01 Q 60/40 . . . Geleidende sondes [10]
G 01 Q 60/42 . . . Functionalisering [10]
G 01 Q 60/44 . SICM (microscopie met ionengeleidingsaftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SICM-sondes [10]
G 01 Q 60/46 . SCM (microscopie met capacitaire aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SCM-sondes [10]
G 01 Q 60/48 . . Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G 01 Q 60/50 . MFM (microscopie met magneetkracht) of apparatuur daarvoor, bijv. MFM-sondes [10]
G 01 Q 60/52 . . Resonantie [10]
G 01 Q 60/54 . . Sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie, bijv. houders [10]
G 01 Q 60/56 . . . Sondes met een magnetische coating [10]
G 01 Q 60/58 . SThM (microscopie met warmte-aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SThM-sondes [10]
G 01 Q 60/60 . SECM (microscopie met elektrochemische aftasting) of apparatuur daarvoor, bijv. SECM-sondes [10]
G 01 Q 70/00 Algemene aspecten van SPM
(microscopie met aftastsondes) sondes, hun vervaardiging of hun gerelateerde instrumentatie,
voorzover zij niet speciaal zijn aangepast aan één enkele SPM-techniek die valt
onder de groep G01Q 60/00 [10]
G 01 Q 70/02 . Sondehouders [10]
G 01 Q 70/04 . . met compensatie voor temperatuurfouten of trilfouten [10]
G 01 Q 70/06 . Sondepunt-rijen [10]
G 01 Q 70/08 . Sondekenmerken [10]
G 01 Q 70/10 . . Vorm of verloop [10]
G 01 Q 70/12 . . . Nanobuispunten [10]
G 01 Q 70/14 . . Bijzondere materialen [10]
G 01 Q 70/16 . Sondevervaardiging [10]
G 01 Q 70/18 . . Meervoudige [10]
G 01 Q 80/00 Toepassingen van
aftastsondetechnieken, anders dan met SPM (microscopie met aftastsondes) (produceren of
behandelen van microstructuren B81C; produceren of behandelen van
nanostructuren B82B 3/00; registreren of reproduceren van informatie gebruikmakend
van nabijheidsinteractie G11B 9/12, G11B 11/24 of G11B 13/08) [10]
G 01 Q 90/00 Niet elders ondergebrachte
aftastsonde-technieken of aftastsonde-apparatuur [10]